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NR6900系列抗干扰介质损耗测试仪
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产品描述
产品简介
用于精密测量各种高压电气设备的绝缘介质损耗因数tgδ与电容Cx,可鉴别电气绝缘设备污染、破裂、穿孔、受潮等引起的缺陷和隐患。适用于变压器、互感器、套管、电力电缆、电容器、绝缘子、高压开关、避雷器等设备的测量。
主要特点
◆仪器配备了大屏幕(105mm×65mm)中文菜单界面，屏显分为左右两部分，左边为功能菜单区，右边为相关状态信息提示，每一步都非常清楚，操作人员不需要专业培训就能使用;
◆仪器内部配备有日历芯片和大容量存储器，能将检测结果按时间顺序保存，随时可以查看历史记录，并可以打印输出;
◆仪器能够分别使用正接法、反接法、CVT自激法等多种方式测试;
◆仪器可在不拆除CVT高压引线的情况下正确测量CVT的介质损耗值和电容值;
◆仪器内部的逆变器和采样电路全部由数字化控制，输出电压连续可调;
◆仪器具备输入电压波动、输出短路、过压、过流、温度、接地检测等多重保护措施和功能，保证了仪器安全、可靠。
技术参数
◆ 介损测量范围：0~100%
◆ 分辩率：0.0001
◆ 示值误差：见下表
◆ 电容测量范围：10kV：0~40000pF <5kV：0~0.1μF
◆ 分辩率： 0.001pF
◆ 输出电压：0.5~10KV可调
◆ 基本误差：<0.05%
◆ 重量：20kg
介质测量精度
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测试内容
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电容范围
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试品类型
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最大测试误差
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介质损耗因数tgδ
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100 pF~40000pF
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非接地
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±(2%读数+0.0005)
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接地
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±(2%读数+0.0010)
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10pF~100pF或40000pF
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非接地
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接地
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±(2%读数+0.0020)
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3pF~10pF
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非接地和接地
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地 址：中国光谷武汉市东湖新技术开发区光谷大道303号光谷芯中心C3-09B栋
